可控(kòng)矽測(cè)試儀的伏安特(tè)性和觸發(fā)特性(xìng)是(shì)晶閘(zhá)管的zui基本特性(xìng),這些特(tè)性的(dí)好壞,直(zhí)接影(yǐng)響到器件在整機(jī)上的正(zhèng)常(cháng)使用。因(yīn)此(cǐ),
可(kě)控(kòng)矽測(cè)試儀(yí)檢測(cè)晶(jīng)閘(zhá)管(guǎn)的伏(fú)安(ān)特性和(hé)觸(chù)發(fā)特(tè)性在(zài)晶(jīng)閘管器件的生(shēng)產(chǎn),經(jīng)銷及使用(yòng)過程(chéng)中(zhōng)都是十分重要的(dí)。測試以上(shàng)參(cān)數通常由(yóu)晶閘管(guǎn)伏(fú)安特性測試儀和晶(jīng)閘管門(mén)極(jí)觸(chù)發(fā)特性測(cè)試(shì)儀完成,測試伏(fú)安特性參數(shù)時(shí)還需另配(pèi)一(yī)台示波(bō)器觀(guān)看伏(fú)安(ān)特性曲綫,以(yǐ)上三(sān)台儀(yí)器(qì)常(cháng)規價在(zài)7000—10000元以(yǐ)上(shàng),且台數多(duō),占(zhān)地(dì)大(dà),操作不方(fāng)便。我們根(gēn)據(jù)廣大用戶的需求(qiú),現研製(zhì)出將以(yǐ)上(shàng)三(sān)台儀(yí)器(qì)作在(zài)一起(qǐ)的晶(jīng)閘(zhá)管伏安(ān)特性(xìng),觸(chù)發特性(xìng)綜合(hé)測試儀(yí)。
可(kě)控矽(guī)測試儀能以(yǐ)毫安級電(diàn)流控製大功率(shuài)的(dí)機電設備,如果超(chāo)過(guò)此頻(pín)率(shuài),因元件(jiàn)開關損髦顯著增加,允(yǔn)許(xǔ)通過(guò)的平(píng)均電流(liú)相降低,此時,標(biāo)稱電流應(yīng)降級使用。
可(kě)控矽測(cè)試(shì)儀擴展性(xìng)強(qiáng),通(tōng)過(guò)選件可以(yǐ)提高(gāo)電(diàn)壓(yā),電流和測試品(pǐn)種範圍。在PC窗口(kǒu)提示(shì)下輸(shū)入被(bèi)測器件的測試條件點擊(jī)即(jí)可(kě)完(wán)成測試(shì)任(rèn)務。係(xì)統(tǒng)采用(yòng)帶(dài)有開(kāi)爾文感應結構(gòu)的(dí)測(cè)試(shì)插(chā)座(zuò),自動(dòng)補償由(yóu)於(yú)係統內部及測試電(diàn)纜(lǎn)長(cháng)度引(yǐn)起(qǐ)的(dí)任(rèn)何(hé)壓降(jiàng),保證測試結(jié)果(guǒ)準(zhǔn)確可靠。可(kě)控(kòng)矽測(cè)試(shì)儀麵板顯(xiǎn)示(shì)裝置(zhì)可及時(shí)顯示係(xì)統的(dí)各種(zhǒng)工作(zuò)狀(zhuàng)態(tài)和(hé)測試結果,前麵板(bǎn)的(dí)功能(néng)按鍵(jiàn)方便(biàn)了係統操作(zuò)。通過(guò)功(gōng)能按鍵,係統(tǒng)可以(yǐ)脫離主(zhǔ)控計算(suàn)機獨(dú)立(lì)完(wán)成(chéng)多種(zhǒng)工作。