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僅(jǐn)用萬用表作(zuò)為(wéi)檢(jiǎn)測(cè)工具的(dí)集成電(diàn)路(lù)的檢(jiǎn)測方(fāng)法

更新(xīn)時(shí)間(jiān)：2014-08-26

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僅用(yòng)萬用(yòng)表作(zuò)為(wéi)檢測(cè)工具(jù)的集成(chéng)電路的(dí)檢測方法(fǎ)

編(biān)者按：雖說(shuō)集成電(diàn)路(lù)代(dài)換有方，但(dàn)拆卸畢竟較(jiào)麻煩。因(yīn)此(cǐ)，在拆(chāi)之前(qián)應(yīng)確切(qiē)判(pàn)斷集成電(diàn)路是否(fǒu)確實(shí)已損壞(huài)及損壞的(dí)程(chéng)度(dù)，避免盲目拆卸(xiè)。本文介(jiè)紹了僅用(yòng)萬(wàn)用(yòng)表(biǎo)作(zuò)為檢測工(gōng)具的(dí)不(bù)在路和(hé)在路檢測集(jí)成電(diàn)路(lù)的方法和注意事(shì)項。文(wén)中所述在路檢(jiǎn)測的四(sì)種方法(fǎ)（直流電阻(zǔ)，電壓，交流電壓和(hé)總電流的測(cè)量）是業餘維修(xiū)中(zhōng)實(shí)用且常(cháng)用(yòng)的檢(jiǎn)測(cè)法(fǎ)。這裏，也希望大家提(tí)供其他實用的(dí)（集(jí)成電(diàn)路(lù)和元器(qì)件）判別檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)。

　　一(yī)，不在(zài)路(lù)檢測
　　這(zhè)種方法是在(zài)ＩＣ未焊(hàn)入(rù)電路時進行的(dí)，一般(bān)情(qíng)況(kuàng)下(xià)可用(yòng)萬用表測量各(gè)引腳(jiǎo)對應(yīng)於接地引腳之(zhī)間(jiān)的正(zhèng)，反(fǎn)向電阻值(zhí)，並和(hé)完好(hǎo)的(dí)ＩＣ進行比較。

　　二，在路(lù)檢測
　　這(zhè)是(shì)一種通過(guò)萬用表檢測(cè)ＩＣ各引(yǐn)腳在(zài)路（ＩＣ在電路(lù)中）直流電(diàn)阻(zǔ)，對地(dì)交直流電壓以及(jí)總(zǒng)工作(zuò)電(diàn)流(liú)的檢(jiǎn)測方(fāng)法(fǎ)。這(zhè)種方法(fǎ)克(kè)服了代(dài)換(huàn)試驗法需要有可(kě)代換ＩＣ的(dí)局限性和拆卸(xiè)ＩＣ的(dí)麻煩(fán)，是檢測(cè)ＩＣzui常用和實用(yòng)的(dí)方(fāng)法(fǎ)。

　　１．在路(lù)直(zhí)流電(diàn)阻檢測法(fǎ)
　　這是一(yī)種用萬用表歐(ōu)姆(mǔ)擋，直(zhí)接在(zài)綫路(lù)板上測量(liáng)ＩＣ各(gè)引(yǐn)腳(jiǎo)和外圍元(yuán)件的正反向(xiàng)直流電阻值，並與正常數(shù)據(jù)相比較(jiào)，來發現和確定(dìng)故(gù)障(zhàng)的方(fāng)法(fǎ)。測量(liáng)時(shí)要注意以下三點：
　　(1)測(cè)量(liáng)前(qián)要先(xiān)斷(duàn)開(kāi)電源，以免(miǎn)測試(shì)時(shí)損壞(huài)電(diàn)表和(hé)元(yuán)件。
　　(2)萬(wàn)用(yòng)表電阻擋的內(nèi)部電(diàn)壓不得(dé)大(dà)於６Ｖ，量程(chéng)用Ｒ×１００或Ｒ×１ｋ擋。
　　(3)測量ＩＣ引腳(jiǎo)參(cān)數時，要注(zhù)意測(cè)量條件(jiàn)，如被測機(jī)型，與ＩＣ相(xiāng)關(guān)的(dí)電位器(qì)的(dí)滑(huá)動臂位置等，還要(yào)考慮外圍電路元(yuán)件的好壞(huài)。

　　２．直流工作(zuò)電壓(yā)測(cè)量法(fǎ)
　　這(zhè)是(shì)一種在通電(diàn)情況下(xià)，用萬用表直流電(diàn)壓擋對直流供電(diàn)電壓，外圍(wéi)元(yuán)件的工作電壓(yā)進行(háng)測量(liáng)；檢測(cè)ＩＣ各引(yǐn)腳對地直流電壓值(zhí)，並與(yǔ)正常(cháng)值(zhí)相比較(jiào)，進而壓(yā)縮故(gù)障範(fàn)圍(wéi)，找出(chū)損壞的(dí)元(yuán)件(jiàn)。測量時要(yào)注意以下八點(diǎn)：
　　(1)萬(wàn)用(yòng)表要有足夠(gòu)大的內(nèi)阻，至(zhì)少要大於被測(cè)電路電(diàn)阻(zǔ)的１０倍以上(shàng)，以免造成(chéng)較(jiào)大(dà)的測量(liáng)誤(wù)差。
　　(2)通常把各電位器旋到中間位置，如果是(shì)電視機，信號源(yuán)要(yào)采(cǎi)用標準彩條信號發(fā)生器(qì)。
　　(3)表(biǎo)筆或(huò)探(tàn)頭要采取防滑措施。因(yīn)任(rèn)何瞬間短路(lù)都容(róng)易損(sǔn)壞ＩＣ。可采取如下方法防(fáng)止表(biǎo)筆(bǐ)滑(huá)動(dòng)：取(qǔ)一段自行(háng)車用氣(qì)門芯套在(zài)表(biǎo)筆尖上(shàng)，並(bìng)長(cháng)出(chū)表筆尖(jiān)約(yuē)０．５ｍｍ左(zuǒ)右(yòu)，這既能使(shǐ)表(biǎo)筆尖良(liáng)好(hǎo)地(dì)與被測(cè)試點(diǎn)接(jiē)觸，又(yòu)能有效(xiào)防止(zhǐ)打(dǎ)滑(huá)，即使碰(pèng)上(shàng)鄰近點也(yě)不會(huì)短路。
　　(4)當測(cè)得(dé)某(mǒu)一引腳(jiǎo)電(diàn)壓與正(zhèng)常值不符(fú)時，應根(gēn)據(jù)該引腳電(diàn)壓對(duì)ＩＣ正(zhèng)常工作(zuò)有(yǒu)無(wú)重(zhòng)要影(yǐng)響(xiǎng)以(yǐ)及(jí)其他引腳電壓(yā)的(dí)相應(yīng)變化(huà)進(jìn)行分析(xī)，才(cái)能(néng)判斷ＩＣ的(dí)好(hǎo)壞(huài)。
　　(5)ＩＣ引腳電壓(yā)會(huì)受外圍(wéi)元器件影(yǐng)響。當外圍元器件(jiàn)發生漏電，短(duǎn)路(lù)，開(kāi)路(lù)或變值時，或外圍(wéi)電路連(lián)接的是一(yī)個阻值(zhí)可(kě)變(biàn)的電(diàn)位器(qì)，則電位(wèi)器滑動臂所處的位(wèi)置(zhì)不同，都(dū)會使(shǐ)引腳(jiǎo)電(diàn)壓發(fā)生(shēng)變化(huà)。
　　(6)若(ruò)ＩＣ各(gè)引腳電壓(yā)正(zhèng)常(cháng)，則一般(bān)認為ＩＣ正常；若(ruò)ＩＣ部(bù)分引(yǐn)腳(jiǎo)電壓(yā)異(yì)常，則應從(cóng)偏(piān)離正常(cháng)值zui大處(chǔ)入(rù)手，檢(jiǎn)查外圍元件(jiàn)有*，若*，則(zé)ＩＣ很(hěn)可能損壞。
　　(7)對(duì)於動態(tài)接(jiē)收裝(zhuāng)置(zhì)，如(rú)電(diàn)視機(jī)，在有無信號(hào)時，ＩＣ各(gè)引(yǐn)腳電(diàn)壓(yā)是不(bù)同(tóng)的(dí)。如(rú)發現引腳電壓不該變化的(dí)反而(ér)變(biàn)化大，該(gāi)隨(suí)信(xìn)號(hào)大小和可(kě)調元(yuán)件(jiàn)不同位置(zhì)而變(biàn)化的(dí)反(fǎn)而不變(biàn)化，就(jiù)可確定ＩＣ損壞。
　　(8)對於多種(zhǒng)工(gōng)作(zuò)方(fāng)式的裝置，如(rú)錄(lù)像機，在(zài)不同工作(zuò)方(fāng)式下(xià)，ＩＣ各(gè)引(yǐn)腳(jiǎo)電(diàn)壓(yā)也是不同的。

　　３．交流(liú)工(gōng)作電(diàn)壓測(cè)量(liáng)法(fǎ)
　　為了掌(zhǎng)握(wò)ＩＣ交流信號的(dí)變化情況(kuàng)，可(kě)以用(yòng)帶(dài)有(yǒu)ｄＢ插(chā)孔(kǒng)的萬(wàn)用(yòng)表(biǎo)對ＩＣ的(dí)交流(liú)工作電(diàn)壓進行(háng)近(jìn)似測量(liáng)。檢測(cè)時萬用表置於(yú)交流電壓擋，正(zhèng)表(biǎo)筆(bǐ)插(chā)入(rù)ｄＢ插(chā)孔；對(duì)於(yú)無ｄＢ插孔的萬用表，需(xū)要(yào)在(zài)正(zhèng)表(biǎo)筆(bǐ)串接一隻(zhī)０．１～０．５μＦ隔(gé)直電(diàn)容(róng)。該法(fǎ)適(shì)用於工(gōng)作頻率(shuài)比較(jiào)低的ＩＣ，如(rú)電(diàn)視(shì)機的視頻放(fàng)大級，場(cháng)掃描(miáo)電路(lù)等。由(yóu)於(yú)這些(xiē)電路(lù)的(dí)固(gù)有(yǒu)頻(pín)率(shuài)不(bù)同，波(bō)形(xíng)不(bù)同，所以所(suǒ)測的(dí)數(shù)據(jù)是(shì)近似值，隻(zhī)能供參考(kǎo)。

　　４．總(zǒng)電流(liú)測量法(fǎ)
　　該法是通過(guò)檢(jiǎn)測ＩＣ電源(yuán)進綫的(dí)總電流，來(lái)判斷ＩＣ好壞的(dí)一種(zhǒng)方(fāng)法。由於(yú)ＩＣ內部絕(jué)大(dà)多(duō)數(shù)為直接(jiē)耦(ǒu)合，ＩＣ損(sǔn)壞時（如某一(yī)個ＰＮ結(jié)擊穿或開路(lù)）會(huì)引起(qǐ)後級飽和與(yǔ)截(jié)止，使總(zǒng)電流發生變化。所以通(tōng)過測量總電流(liú)的方(fāng)法可以判斷(duàn)ＩＣ的(dí)好(hǎo)壞(huài)。也(yě)可(kě)用測(cè)量電源(yuán)通(tōng)路(lù)中電阻(zǔ)的電(diàn)壓降(jiàng)，用歐姆定(dìng)律(lǜ)計(jì)算(suàn)出總電(diàn)流(liú)值。

　　以上(shàng)檢(jiǎn)測(cè)方法(fǎ)，各(gè)有(yǒu)利(lì)弊(bì)，在(zài)實際應用(yòng)中將(jiāng)各種方法(fǎ)結合(hé)起來，靈活運用(yòng)。

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